（解析）環(huán)境試驗設備的可靠性測試及測試條件

發(fā)布時間：2014-05-12

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(解析）環(huán)境試驗設備的可靠性測試及測試條件：

可靠性測試應該在可靠性設計之后，但目前我國的可靠性工作主要還是在測試階段，這里將測試放在前面。為了測得產品的可靠度（也就是為了測出產品的MTBF），我們需要拿出一定的樣品，做較長時間的運行測試，找出每個樣品的失效時間，根據*節(jié)的公式計算出MTBF，當然樣品數量越多，測試結果就越準確。但是，這樣的理想測試實際上是不可能的，因為對這種測試而言，要等到zui后一個樣品出現故障――需要的測試時間長得無法想象，要所有樣品都出現故障——需要的成本高得無法想象。為了測試可靠性，這里介紹：加速測試（也就增加應力*），使缺陷迅速顯現；經過大量專家、長時間的統(tǒng)計，找到了一些增加應力的方法，轉化成一些測試的項目。如果產品經過這些項目的測試，依然沒有明顯的缺陷，就說明產品的可靠性至少可以達到某一水平，經過換算可以計算出MTBF（因產品能通過這些測試，并無明顯缺陷出現，說明未達到產品的極限能力，所以此時對應的MTBF是產品的zui小值）。其它計算方法見下文。（*應力：就是指外界各種環(huán)境對產品的破壞力，如產品在85℃下工作受到的應力比在25℃下工作受到的應力大；在高應力下工作，產品失效的可能性就大大增加了）；

測試條件：
不同的產品測試條件不一樣；就拿高溫測試來說，有些產品要求做高溫貯存測試，有些要求做高溫運行測試，有些產品的高溫用85℃做測試，有些產品的高溫是用65℃做測試。但是，宗旨只有一個，那就是至少滿足國/行標。要測試一種產品的可靠性，找到這種產品的國/行標是必需的，按照國/行標的要求和指引找出必須的測試項目與各項目的測試方法，從而進行環(huán)境測試；同一種產品，在不同的階段，測試條件也不一樣；一般而言，產品會經過研發(fā)、小批量試產、批量生產三個不同的階段。在研發(fā)階段，測試條件zui嚴（應力zui大）、測試延續(xù)的時候zui短；小批量試產階段，測試應力適中、測試時間適中；批量生產階段，測試應力zui小、測試時間較短；三個階段的主要差別見下表：階段實驗目的實驗特點實驗要求研發(fā)發(fā)現設計缺陷，擴大設計余量高應力、短時間*中試考察產品是否達到基本的可靠性水平中應力、中長時間無明顯故障批量生產生產工藝條件的穩(wěn)定性低應力、短時間有條件的允許故障發(fā)生鑒定鑒定產品的可靠性、計算產品的MTBF低應力、長時間無特別要求

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